Articles

КРЕМНИЙ С БИНАРНЫМИ СОЕДИНЕНИЯ АТОМОВ ФОСФОРА И ГАЛЛИЯ

Vol. 4 No. 7 (Special Issue) (2024): Practical problems and solutions to the use of theoretical laws in the sciences of the 21st century 1226-1229

DOI: 10.5281/zenodo.13382788 2024-07-31 Articles CC BY 4.0 Open Access

Authors

  • Нурулло Зикриллаев Ташкентский государственный технический университет,100095, Узбекистан, г. Ташкент, ул. Университетская 2,
  • Угилой Қурбонова Ташкентский государственный технический университет,100095, Узбекистан, г. Ташкент, ул. Университетская 2,
  • Феруза Уракова Ташкентский государственный технический университет,100095, Узбекистан, г. Ташкент, ул. Университетская 2,
  • Кутбиддин Вахабов Ташкентский государственный технический университет,100095, Узбекистан, г. Ташкент, ул. Университетская 2,
  • Баходир Алиев Ташкентский государственный технический университет,100095, Узбекистан, г. Ташкент, ул. Университетская 2,
  • Темур Рашидов Ташкентский государственный технический университет,100095, Узбекистан, г. Ташкент, ул. Университетская 2,

Abstract

Установлено, что диффузия примесных атомов галлия и фосфора из газовой фазы в кремний обеспечивает не только компенсацию, но и частичное взаимодействие этих атомов между собой. Спектр образцов с бинарными соединениями GaP полученный на сканирующем электронном микроскопе показал, что атомы галлия и фосфора присутствуют на поверхности и приповерхности кремния после диффузии. Исследование концентрационного распределения носителей заряда по глубине показывает, что при совместной диффузии растворимость атомов галлия в кремнии увеличивается на один порядок. При этом подвижность носителей заряда (электронов) уменьшалась в 3÷4 раза. На основе полученных данных определены концентрация (~1019см-3) бинарных соединений Ga-P+ и энергия химической связи (~0,62 eV). Полученные результаты могут быть связаны с электростатическим взаимодействием ионов галлия и фосфора при диффузии, из-за которого изменяется концентрационное распределение примесей, а также образуются квазинейтральные бинарные соединении Ga-P+ в решетке кремния.

Keywords:

References

Chen K., Kapadia R., Harker, A., Desai S. Direct growth of single-crystalline III–V semiconductors on amorphous substrates. Nature communications, 2016, vol. 7, 10502. doi: 10.1038/ncomms10502.

Бахадирханов М.К., Исамов С.Б. Физические основы формирования гетероваризонной структуры на основе кремния. Журнал технической физики, 2021, т. 91, № 11, с. 1678.

Adachi S. Properties of Group−IV, III−V and II−VI Semiconductors, Chichester: John Wiley & Sons Ltd, 2005.

Бахадырханов М.К., Мавлянов А.Ш., Содиков, У.Х., Хаккулов М.К. Кремний с бинарными элементарными ячейками как новый класс материалов для будущей фотоэнергетики, Гелиотехника, 2015, № 4, с. 28.

Уваров А.В., Баранов А.И., Вячеславова Е.А., Калюжный Н.А. Формирование гетероструктур GaP/Si-фотопреобразователей с помощью комбинации методов МОС-гидридной эпитаксии и атомно-слоевого плазмохимического осаждения. Письма в ЖТФ, 2021, т. 47, № 14, с. 51. doi: 10.21883/PJTF.2021.14.51189.18781

Bakhadirkhanov M.K., Isamov S.B., Kenzhaev Z.T. New materials for photovoltaics and optoelectronics based on silicon with binary nanoclusters of impurity atoms with controllable parameters. Euroasian J. Semicond. Sci. Engineering, 2020, vol. 2, no. 5, p. 9.

Zikrillayev N.F., Koveshnikov S.V., Turekeev Kh.S., Norqulov N., Tachilin S.A. Diffuzion of Phosphours and Gallium from a Deposited Layer of Gallium Phosphide into Silicon. Physics of the Solid State, 2022, vol. 64, no.11, pp. 587-594.

Readership

3 Views
0 PDF downloads
3 Countries

    Published

    2024-07-31

    How to Cite

    Зикриллаев, Н., Қурбонова, У. ., Уракова , Ф., Вахабов, К., Алиев, Б., & Рашидов, Т. . (2024). КРЕМНИЙ С БИНАРНЫМИ СОЕДИНЕНИЯ АТОМОВ ФОСФОРА И ГАЛЛИЯ. Eurasian Journal of Academic Research, 4(7 (Special Issue), 1226-1229. https://doi.org/10.5281/zenodo.13382788
    Innovative Academy RSC
    Article metrics Views and PDF downloads
    3 Views
    0 Downloads